图书介绍
半导体存储器测试技术【2025|PDF下载-Epub版本|mobi电子书|kindle百度云盘下载】
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- 上海半导体器件研究所情报资料室 著
- 出版社: 上海半导体器件研究所
- ISBN:
- 出版时间:1977
- 标注页数:168页
- 文件大小:9MB
- 文件页数:172页
- 主题词:
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图书目录
目录1
半导体存储器测试技术1
动态存储器15
半导体存储器测试18
MOS存储器的图形灵敏度27
4096位随机存取存储器的图形灵敏度29
MOS随机存取存储器的诊断性测试37
随机存取存储器的测试图形及测试对策44
4K随机存取存储器的测试问题及其解决方法52
严密、高速的“移动变反”测试图形61
存储器测试对策67
只读存储器和可编程序只读存储器的测试需要什么条件75
静态双极型随机存取存储器的测试86
在芯片和插件板一级测试双极型半导体存储器所遇到的问题97
电荷耦合存储器的测试原理99
多少测试项目才够数?111
存储器和大规模集成电路的时间测试的必要性116
器件测试系统之探讨131
第三代测试系统的新结构141
计算样品统计分布的四次测量及通知非正态性分布的一种快速工作程序147
汇编结构及改正算法153
高速存储器/随机逻辑测试系统160
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